Artikel
In‐situ‐Beobachtung,
Von Wiley-VCH zur Verfügung gestellt
Das Rastertransmissionselektronenmikroskop (Scanning Transmission Electron Microscope, STEM) verknüpft Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM). Diese Kombination führt zu neuen hochaufgelösten Kontrasten, die harte wie weiche Materialien abbilden. Die STEM erreicht eine subatomare Auflösung. 1 In STEM-Dunkelfeld-Abbildung (High-Angle Annular Dark-Field, HAADF) ist der Bildkontrast umso höher, je unterschiedlicher die Ordnungszahl der beteiligten Elemente ist (Z-Kontrast). In Kombination mit Elektron-Energieverlustspektroskopie (Electron Energy-Loss Spectroscopy, EELS) gestattet die Auswertung der Signale...
